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公司产品 |
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| 激光平面干涉仪：PG15-J4/XQ-15J
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1、仪器的主要用途
PG15-J4型激光平面干涉仪是一种使用方便的光学精密计量仪器，主要用于精密测量光学平面度。仪器配有激光光源（波长为6328A）。对于干涉条纹可目视、测量读数、照相留存记录。工作时对防震要求一般。该仪器可应用于光学车间、实验室、计量室。如需配购相关的必要附件，可精密测量光学平板的微小楔角、光学材料折射率n的均匀性，光学镀膜面或金属块规表面的平面度，90o棱角的直角误差及角锥棱镜单角和综合误差。
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2、工作原理
本仪器工作基于双光束等厚干涉原理。根据近代光学的研究结果，光兼有波动与微粒两重特性。光的干涉现象是光的
波动性的特性。
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| 3、仪器技术参数： |
1、第一标准平面（A面），不镀膜。
工作直径：D1=Φ146mm
不平度小于0.02μm(λ/30)。
2、第二标准平面（B面），不镀膜。 工作直径：D2=Φ140mm
不平度小于0.03μm(λ/20)。
3、准直系统：孔径F/2.8， 工作直径：D1=Φ146mm 焦距：f=400mm.
4、测微目镜：焦距f=16.7mm,放大倍数β=15X，视场角2w=40o
成像物镜：I、D=4.5 П、D=7 Ш、D=10
f=16 f=23 f=37
5、干涉室尺寸：深260*宽300*190mm。
6、光源规格：激光ZN18（He-Ne），上海玻璃仪器一厂出品。
7、仪器的外形尺寸：长*宽*高 350*400*720mm。
8、仪器重量：100公斤。 |
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