| 三目透反射偏光显微镜：XPF-300C
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一、仪器的主要用途和特点
XPF-300透反射偏光显微镜是地质、矿产、冶金等部门和相关高等院校常用的专业实验仪器。用于不透明物体或半透明物体，可以同时采用透射光和反射光观察.
随着光学技术的不断进步，偏光显微镜的应用范围也越来越广阔，许多行业，如化工，半导体工业以及药品检验等等，都广泛地使用偏光显微镜。XPF-300透反射偏光显微镜就是非常适用的产品，可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件，是一组具有较完备功能和良好品质的新型产品.本仪器的具有可扩展性，可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。
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| 二、仪器的主要技术指标 |
| 名
称
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规
格
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| 总放大倍数： |
40X---630X |
| 无应力消色差物镜 |
4X/0.1 |
| 10X/0.25 |
| 25X/0.40 |
| 40X/0.65弹簧 |
| 63X/0.85弹簧 |
| 目镜 |
10X十字目镜 |
| 10X分划目镜 |
| 试片 |
石膏1λ试片 |
| 云母1/4λ试片 |
| 石英楔子试片 |
| 测微尺 |
0.01mm |
| 滤色片 |
蓝色 |
| 带座目镜网络尺 |
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| 移动尺 |
移动范围30mm×40mm |
| 镜筒 |
三目观察 |
同轴照明系统
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显微镜垂直照明系统，系统系数1倍，可适配与各型号的普通(160毫米机械筒长，斜筒式)
显微镜 。可作为反射光照明系统下观察不透明物体表面细微结构.
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| 三、系统数字性 |
| XPF-300C型偏光显微镜系统是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的计算机成像技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在计算机上很方便地观察偏光图像，并对偏光图谱进行分析,处理,还可输出或打印偏光图片。 |
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| 四、系统组成 |
1、偏光显微镜XPF-300
2、电脑适配镜
3、彩色摄像器机
4、A/D转换器(图形采集设备)
5、计算机（选购） |
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| 五、选购部分 |
| 1.偏光分析软件 |
| 2.200万像素彩色成像器,300万像素彩色成像器,400万像素彩色成像器 |
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